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口頭

ガンマ線誘起陽電子消滅分光法の開発

平 義隆*; 杉田 健人*; 岡野 泰彬*; 藤本 將輝*; 平出 哲也

no journal, , 

陽電子消滅分光法は、結晶の単原子空孔型欠陥や絶縁材料中の微小空隙の測定を行える強力な分析手法である。分子科学研究所UVSOR-IIIでは、超短パルスガンマ線を用いたガンマ線誘起陽電子消滅分光法(Gamma-ray induced positron annihilation spectroscopy: GiPAS)の開発とユーザー利用を推進している。GiPASは、物質に対する透過力の高いガンマ線を用いて対生成によって物質内部で陽電子を発生するため、厚さ数cmのバルク材料の陽電子消滅実験を非破壊で行うことができる。超短パルスガンマ線の発生、および、具体的な測定手法として陽電子寿命測定と寿命運動量相関測定に成功した。

口頭

UVSOR-IIIにおけるガンマ線誘起陽電子消滅分光法の開発

平 義隆*; 杉田 健人*; 山本 涼平*; 岡野 泰彬*; 平出 哲也

no journal, , 

UVSOR-IIIにおいて、ガンマ線誘起陽電子消滅分光法を開発している。本手法では、従来の陽電子線源を用いた方法では測定が困難であった厚さ数cmのバルク試料全体の欠陥分析が可能となる。現在、陽電子寿命測定法のユーザー利用を展開し、それと並行して同時計数ドップラー拡がり法,寿命運動量相関測定法,スピン偏極陽電子分光法の開発を行っている。本討論会ではそれらの開発状況について述べる。

口頭

ガンマ線誘起陽電子消滅分光法の開発

平 義隆*; 杉田 健人*; 山本 涼平*; 岡野 泰彬*; 平出 哲也

no journal, , 

陽電子消滅分光法は、結晶の単原子空孔型欠陥や絶縁材料中の微小空隙の測定を行える強力な分析手法である。分子科学研究所UVSOR-IIIでは、超短パルスガンマ線を用いたガンマ線誘起陽電子消滅分光法(Gamma-ray induced positron annihilation spectroscopy: GiPAS)の開発とユーザー利用を推進している。GiPASは、物質に対する透過力の高いガンマ線を用いて対生成によって物質内部で陽電子を発生するため、厚さ数cmのバルク材料の陽電子消滅実験を非破壊で行うことができる。また、外部からガンマ線を試料に照射するために高温,高圧,液浸などの環境下での測定も行える。超短パルスガンマ線の発生、および、具体的な測定手法として陽電子寿命測定と寿命運動量相関測定の開発状況について報告する。

口頭

UVSOR-IIIにおけるガンマ線誘起陽電子寿命; 運動量相関測定法の開発

山本 涼平*; 平 義隆*; 杉田 健人*; 平出 哲也; 高嶋 圭史*; 加藤 政博*

no journal, , 

陽電子消滅分光法は、結晶の単原子空孔型欠陥や絶縁材料中の微小空隙の測定を行える強力な分析手法である。分子科学研究所UVSOR-IIIでは、超短パルスガンマ線を用いたガンマ線誘起陽電子消滅分光法(Gamma-ray induced positron annihilation spectroscopy: GiPAS)の開発を行っている。具体的な測定手法として陽電子寿命測定と寿命運動量相関測定に成功しており、今回、ひずみを入れた鉄鋼材料の寿命運動量相関測定において、欠陥捕獲される過程の検出に成功した。

口頭

Development of gamma ray induced positron annihilation spectroscopy

平 義隆*; 杉田 健人*; 岡野 泰彬*; 平出 哲也

no journal, , 

超短パルスガンマ線を陽電子消滅分光法(PAS)に適用した。ガンマ線誘起PAS(GiPAS)と呼ばれる高エネルギーガンマ線を使用するPASには、放射性同位元素を使用するPASと比較していくつかの利点がある。(i)陽電子は、材料への透過性が高いガンマ線の照射による対生成によってバルク材料全体に生成されるため、数センチメートルの厚い材料の欠陥分析が可能になる。(ii)密封線源の被覆材料で消滅した陽電子の寄与がないため、データ分析が簡単かつ正確になる。

口頭

UVSOR-IIIにおけるガンマ線誘起陽電子消滅分光法の開発

平 義隆*; 杉田 健人*; 岡野 泰彬*; 平出 哲也

no journal, , 

陽電子消滅分光法は、結晶の単原子空孔型欠陥や絶縁材料中の微小空隙の測定を行える強力な分析手法である。分子科学研究所UVSOR-IIIでは、超短パルスガンマ線を用いたガンマ線誘起陽電子消滅分光法の開発を行っている。具体的には、陽電子消滅寿命(PAL)測定と寿命運動量相関(AMOC)測定に成功している。PALでは試料のみのスペクトルを直接測定することに成功している。また、AMOCにおいても、欠陥の状態の異なる試料において、試料中のみの陽電子消滅について、異なる状態から消滅していく運動量分布を捕えることに成功した。現在、同時計数ドップラー広がり(CDB)測定も実現しており、新規開発する解析プログラムによって、試料内部での陽電子消滅のみのCDBスペクトルが得られる予定である。

口頭

Gamma ray induced positron annihilation spectroscopy at UVSOR-III

平 義隆*; 杉田 健人*; 岡野 泰彬*; 平出 哲也

no journal, , 

時間分解能140ピコ秒のガンマ線誘起陽電子消滅寿命分光法(GiPALS)を開発した。このシステムは8個のBaF$$_{2}$$シンチレーション検出器と2つのデジタルオシロスコープによって構成されており、現在ユーザーに公開されている。GiPALSに加え、さらにガンマ線誘起陽電子消滅寿命-運動量相関(GiAMOC)も開発した。超短パルスガンマ線の発生方法、GiPALSとGiAMOCシステムの詳細と今後の計画、さらに、スピン偏極ガンマ線によるスピン偏極陽電子源開発について述べる。

口頭

Ultra-short pulsed gamma rays and its application to material science

平 義隆*; 杉田 健人*; 岡野 泰彬*; 平出 哲也

no journal, , 

放射光施設UVSOR-IIIで、750MeVの電子ビームとTi:Saレーザーパルスを90度衝突させることにより、超短パルスガンマ線を開発した。ガンマ線の最大エネルギーは6.6MeVで、パルス幅はサブpsからpsの範囲と計算される。この超短パルスガンマ線を陽電子消滅分光法(PAS)に応用した。陽電子は、空孔,転位,クラスターなどの固体の原子スケールの欠陥や、ポリマーの自由体積の優れたプローブである。ガンマ誘起PAS(GiPAS)と呼ばれる高エネルギーガンマ線を使用するPASは、Na-22を使用するPASと比較していろいろな利点がある。超短パルスガンマ線の発生方法とGiPASの詳細を紹介する。

口頭

Gamma ray induced positron annihilation spectroscopy at UVSOR-III BL1U

平 義隆*; 岡野 泰彬*; 平出 哲也

no journal, , 

日本のUVSORシンクロトロン施設で超短パルスガンマ線を用いたガンマ線誘起陽電子消滅分光法(GiPAS)を開発している。パルス幅がピコ秒のガンマ線は、750MeVの電子ビームと800nmレーザーの間の90度逆コンプトン散乱によって生成される。ガンマ線のエネルギーは6.6MeVで、照射すると材料内部で対生成により陽電子が生成される。生成された陽電子は、空孔、転位、空孔クラスターなどの固体結晶の原子スケールの欠陥に局在する。電子-陽電子対の結合状態であるポジトロニウムは、ポリマーの自由体積によって生じる空隙に局在する。したがって、陽電子はこれらの材料のナノ構造の優れたプローブとなる。さらに、円偏光レーザーによって生成された円偏光ガンマ線は、スピン偏極陽電子を生成することができる。スピン偏極陽電子は、欠陥の周りの電子スピンに関する追加情報を提供する。GiPASは現在、UVSOR-IIIのユーザーによって利用されている。

口頭

Development of gamma-ray-induced positron annihilation spectroscopy at UVSOR-III

平 義隆*; 岡野 泰彬*; 平出 哲也; 薮内 敦*

no journal, , 

UVSORにおいて逆トムソン/コンプトン散乱により得られる高エネルギー超短パルスガンマ線を、ガンマ線誘起陽電子消滅分光法(GiPALS)に応用した。GiPALSでは、8台のBaF$$_{2}$$シンチレーション検出器と2台のデジタルオシロスコープを用いて、半値幅140psの時間分解能を有する陽電子寿命測定システムを開発した。GiPALSは現在外部ユーザーが利用可能であり、例えば、応力負荷下での陽電子寿命その場測定が行われている。また、Ge半導体検出器を導入したガンマ線誘起陽電子消滅寿命-運動量相関(GiAMOC)測定装置の開発も行っている。さらに、パルスガンマ線の散乱が陽電子寿命スペクトルに及ぼす影響を、モンテカルロシミュレーション コードEGS5を使用して計算で評価し、手法の高度化を行っている。今後、円偏光ガンマ線を用いたスピン偏光陽電子消滅分光法の開発なども計画されている。

口頭

UVSOR-III BL1Uにおけるガンマ線誘起陽電子消滅分光法の開発

平 義隆*; 岡野 泰彬*; 平出 哲也

no journal, , 

BL1Uは、新規光源開発と利用方法の開拓に関する研究を行っているビームラインである。タンデムアンジュレータを用いた紫外光の発生と利用研究に加えて、波長800nmのTi:Saレーザーを用いた6.6MeV超短パルスガンマ線の発生とガンマ線誘起陽電子消滅分光法(GiPALS)の利用研究を行っている。GiPALSは、消滅ガンマ線の放出時間分布を測定する事で陽電子の寿命を測定する手法であり、試料内部の欠陥の種類や大きさを分析できる。GiPALSはユーザー利用が可能であり、応力負荷時の金属材料の欠陥形成のその場測定に加えて、鉄系材料、触媒材料、シンチレータなどのバルク試料の測定が行われている。

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